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集成电路开发与测试(中级)
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集成电路开发与测试(中级)

作 者:杭州朗迅科技有限公司 组编 居水荣 夏敏磊 主编
定 价:58.00元 出版时间:2020-12-28
ISBN:978-7-04-055306-2 读者对象:高等职业教育
版面字数:460.000千字 一级分类:电子信息大类
开本:16开 二级分类:电子信息类
全书页数:300页 三级分类:微电子技术
装帧形式:平装
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